新型膜厚控制仪器1
CDNY-06AM是专为光学镀膜设计的新一代光学膜层厚度测量控制仪。本仪器由于采用窄带频率技术,因而对信号谐波和直流漂移具有极强的抑制能力。
红外测温仪Fluke 61
红外测温仪Fluke 61 • 明亮的激光束提供简单的目标瞄准 • 清晰的数据显示 • 软包提高耐用性 • 0.2 °C (0. 5 °F)分辨率可达275 °C (525 °F) • 带背景光的黑色屏幕 • 7s后自动睡眠模式延长电池寿命 • 碱性电池提供4000次典型测量
光子相关纳米粒度仪
Winner802光子相关纳米粒度仪是国家科技型中小企业技术创新基金项目成果(立项代码:10C26213704395),也是国内首款采用动态光散射原理的纳米粒度仪。它采用HAMAMATSU高性能光电倍增管和我公司自主研制的高速数字相关器作为核心器件,通过测试某一角度的散射光的变化